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標題：HDD IBM Drive Fitness Test硬盤測試軟件詳解
1樓
wangxinxin 發(fā)表于：2010-12-15 13:45:38快過年了，這幾天有很多朋友都買硬盤給自己的愛機升級，也讓她過個好年。但是很多朋友不知道該如何檢測硬盤的好壞。現(xiàn)在，我就拿檢測IBM硬盤最權(quán)威的軟件IBM Drive Fitness Test來一個詳細的說明。
首先，將軟件下載并解壓，解壓縮時提示直接放入軟盤，按提示一路確認后，軟盤里有ASPI,DATA,DFT,DOS四個文件夾和autoeexec.bat,command.com,config.sys,ibmbio.com,ibmdos.com5個文件。
以下以TP 600E 為范例，硬盤是好的。現(xiàn)在可以開始測試了！
不好意思，我沒有DC，只有攝像頭，不是很清晰，大家湊合看吧。
一、將軟盤放到軟驅(qū)，并進BIOS設置為軟驅(qū)啟動。
二、開機用軟驅(qū)引導，出現(xiàn)如下界面，選擇第2項，只測試ATA硬盤。
[ Last edited by c@ini@o on 2004-3-17 at 14:09 ]
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首先，將軟件下載并解壓，解壓縮時提示直接放入軟盤，按提示一路確認后，軟盤里有ASPI,DATA,DFT,DOS四個文件夾和autoeexec.bat,command.com,config.sys,ibmbio.com,ibmdos.com5個文件。
以下以TP 600E 為范例，硬盤是好的。現(xiàn)在可以開始測試了！
不好意思，我沒有DC，只有攝像頭，不是很清晰，大家湊合看吧。
一、將軟盤放到軟驅(qū)，并進BIOS設置為軟驅(qū)啟動。
二、開機用軟驅(qū)引導，出現(xiàn)如下界面，選擇第2項，只測試ATA硬盤。
[ Last edited by c@ini@o on 2004-3-17 at 14:09 ]
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三、出現(xiàn)以下畫面時點擊“I Agree”.
[ Last edited by c@ini@o on 2004-3-17 at 14:12 ]
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四、出現(xiàn)以下畫面,大體意思是問找到的驅(qū)動器正確么？點擊“YES”。
[ Last edited by c@ini@o on 2004-3-17 at 14:12 ]
[ Last edited by c@ini@o on 2004-3-17 at 14:12 ]
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五、出現(xiàn)以下畫面，我們有兩種選擇：
1、“Quick Test”:快速測試。
快速測試時間最短，但只能進行簡單的測試。
2、“Advanced Test”:高級測試。
高級測試耗時較長，但測試內(nèi)容詳盡，硬盤有無問題均可測試出來，推薦使用。
[ Last edited by c@ini@o on 2004-3-17 at 14:13 ]
1、“Quick Test”:快速測試。
快速測試時間最短，但只能進行簡單的測試。
2、“Advanced Test”:高級測試。
高級測試耗時較長，但測試內(nèi)容詳盡，硬盤有無問題均可測試出來，推薦使用。
[ Last edited by c@ini@o on 2004-3-17 at 14:13 ]
4.jpg
六、我們先進行快速測試，看看結(jié)果怎樣。點擊“Quick Test”后，出現(xiàn)如下畫面：
點擊“STRAT”，開始了。
需要注意的是，測試開始后，鼠標均不能使用。
[ Last edited by c@ini@o on 2004-3-17 at 14:14 ]
點擊“STRAT”，開始了。
需要注意的是，測試開始后，鼠標均不能使用。
[ Last edited by c@ini@o on 2004-3-17 at 14:14 ]
5.jpg
七、不到2分鐘，我的600E 6。4G 硬盤就測試完畢，出現(xiàn)以下畫面：Operation
completed successfally ,DISPOSITION CODE=0*00，意思是 運算全部成功，點擊“OK”，又退回前一畫面。
[ Last edited by c@ini@o on 2004-3-17 at 14:14 ]
completed successfally ,DISPOSITION CODE=0*00，意思是 運算全部成功，點擊“OK”，又退回前一畫面。
[ Last edited by c@ini@o on 2004-3-17 at 14:14 ]
6.jpg
八、這次，我們該進行高級測試了，步驟同上。
經(jīng)過長時間的測試后，因為我的硬盤是好的，所以仍然提示：Operation
completed successfally，DISPOSITION CODE=0*00。
如果硬盤有任何問題，均不會出現(xiàn)上述提示，會有其它錯誤代碼提示并且畫面背景為紅色（后附錯誤代碼表）這樣，我們只需花不很長的時間就可以知道硬盤是好的還是壞的了。
需要注意的是，測試時間與硬盤容量大小有關(guān)，硬盤越大，測試時間越長，我的6。4G硬盤高級測試花了12分鐘。
[ Last edited by c@ini@o on 2003-12-28 at 14:52 ]
[ 本帖最后由 c@ini@o 于 2005-11-12 14:33 編輯 ]
經(jīng)過長時間的測試后，因為我的硬盤是好的，所以仍然提示：Operation
completed successfally，DISPOSITION CODE=0*00。
如果硬盤有任何問題，均不會出現(xiàn)上述提示，會有其它錯誤代碼提示并且畫面背景為紅色（后附錯誤代碼表）這樣，我們只需花不很長的時間就可以知道硬盤是好的還是壞的了。
需要注意的是，測試時間與硬盤容量大小有關(guān)，硬盤越大，測試時間越長，我的6。4G硬盤高級測試花了12分鐘。
[ Last edited by c@ini@o on 2003-12-28 at 14:52 ]
[ 本帖最后由 c@ini@o 于 2005-11-12 14:33 編輯 ]
十、下面，我們看一下IBM DFT還有什么其它功能。
我們看標題欄，有：DRIVE、FITNESS TEST UTILITES、HELP。
1、DRIVE（驅(qū)動器）下有：SLETCT DRIVE ALT-S（選擇驅(qū)動器），用來選擇你想測試的驅(qū)動器。
RESCAN BUS ALT-R：我查英漢詞典查不到什么意思。
EXIT ALT-X：退出，沒什么好說的。
[ Last edited by c@ini@o on 2004-3-17 at 14:18 ]
我們看標題欄，有：DRIVE、FITNESS TEST UTILITES、HELP。
1、DRIVE（驅(qū)動器）下有：SLETCT DRIVE ALT-S（選擇驅(qū)動器），用來選擇你想測試的驅(qū)動器。
RESCAN BUS ALT-R：我查英漢詞典查不到什么意思。
EXIT ALT-X：退出，沒什么好說的。
[ Last edited by c@ini@o on 2004-3-17 at 14:18 ]
7.jpg
2、FITNESS TEST （適當?shù)臏y試）下有：QUICK TEST（快速測試）我們已經(jīng)用過了，不多說了。
ADVANCED TEST ：高級測試 這個我也介紹過了。
[ Last edited by c@ini@o on 2004-3-17 at 14:21 ]
ADVANCED TEST ：高級測試 這個我也介紹過了。
[ Last edited by c@ini@o on 2004-3-17 at 14:21 ]
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3、UTILITES（功能）下有：DRIVE INFO（驅(qū)動器信息）里面有硬盤的詳細信息，一會我會詳細介紹。
ERASE BOOT SECTOR（抹去分區(qū)表）很顯然，這項是在分區(qū)表損壞時用來重建分區(qū)表的。我的硬盤是日立的，無法使用這一項。
ERASE DISK（格式化硬盤）應該是低級格式化。只能用在IBM的硬盤上。
CORRUPTED SECTOR REPAIR（修復壞的部分）應該是可以修復一些小問題，同樣只適用IBM硬盤。
ATA FUNCTIONE下有S。M。A。R。T。 OPERATIONS這項我記不清什么意思了。
[ Last edited by c@ini@o on 2004-3-17 at 14:22 ]
ERASE BOOT SECTOR（抹去分區(qū)表）很顯然，這項是在分區(qū)表損壞時用來重建分區(qū)表的。我的硬盤是日立的，無法使用這一項。
ERASE DISK（格式化硬盤）應該是低級格式化。只能用在IBM的硬盤上。
CORRUPTED SECTOR REPAIR（修復壞的部分）應該是可以修復一些小問題，同樣只適用IBM硬盤。
ATA FUNCTIONE下有S。M。A。R。T。 OPERATIONS這項我記不清什么意思了。
[ Last edited by c@ini@o on 2004-3-17 at 14:22 ]
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現(xiàn)在詳細介紹一下DRIVE INFO（驅(qū)動器信息），以我的TP600E，日立硬盤介紹：
點擊DRIVE INFO（驅(qū)動器信息）后，顯示如下畫面：
MODEL（型號）：HITACHI_DK239A-65B
CAPACITY(容量):6.45GB
CACHE SIZE(緩沖大小):512KB
ATA COMPLIANCE(看不懂):ATA-4(應該是ATA接口速率)
ULTRA DMA
HIGHEST MODE（高度方式，我也不明白什么意思）：2
ACTIVE MODE（活動方式 ，我也不明白什么意思）：2
SETTINGS 設置
WRITE CACHE（書寫緩沖）：ENABLED（開啟）
READ LOOK-AHEAD（不懂）：ENABLED（開啟）
S。M。A。R。T。 OPERATIONS（不懂）：ENABLED（開啟）
S。M。A。R。T． STATUS（不懂）：GOOD
SECURITY FEATURE（安全特性）：SUPPORTED（支持）
PASSWORD（密碼）：NOT SET （沒設）
SECUTITY MODE（不懂）：FROZEN （不懂）
[ Last edited by c@ini@o on 2004-3-17 at 14:23 ]
點擊DRIVE INFO（驅(qū)動器信息）后，顯示如下畫面：
MODEL（型號）：HITACHI_DK239A-65B
CAPACITY(容量):6.45GB
CACHE SIZE(緩沖大小):512KB
ATA COMPLIANCE(看不懂):ATA-4(應該是ATA接口速率)
ULTRA DMA
HIGHEST MODE（高度方式，我也不明白什么意思）：2
ACTIVE MODE（活動方式 ，我也不明白什么意思）：2
SETTINGS 設置
WRITE CACHE（書寫緩沖）：ENABLED（開啟）
READ LOOK-AHEAD（不懂）：ENABLED（開啟）
S。M。A。R。T。 OPERATIONS（不懂）：ENABLED（開啟）
S。M。A。R。T． STATUS（不懂）：GOOD
SECURITY FEATURE（安全特性）：SUPPORTED（支持）
PASSWORD（密碼）：NOT SET （沒設）
SECUTITY MODE（不懂）：FROZEN （不懂）
[ Last edited by c@ini@o on 2004-3-17 at 14:23 ]
10.jpg
現(xiàn)在基本上把IBM DFT如何使用介紹完了，因為我的英文不好，有些功能只能用在IBM硬盤上，我的硬盤又是日立的，所以我也沒用過。如有錯誤或補充，歡迎跟貼說明！
希望拙文能給需要的朋友一些幫助，愿大家都能買到一塊好硬盤！
[ Last edited by c@ini@o on 2003-12-28 at 15:10 ]
補充一下檢測結(jié)束后錯誤代碼表：
0X00 - Not error
0X10- Aborted
0X20 - Device Not Present
0X22 - Password Protected
0X30- Out of memory
0X31- Wrong Parameter
0X32- Illegal Parameter
0X33- Function not supported
0X40- System Error
0X41- Bad Cable
0X42 - Temerature Limit exceeded
0X43- Pending SCSi Request
0X44- System Vibration
0X45- Low system Performance
0X70- Defective Device
0X71- Device Nor Ready
0X72- Device SMART Error
0X73- Device Damaged By Shock
0X74- SMART self test Error SMART
0X75 Defective device
希望拙文能給需要的朋友一些幫助，愿大家都能買到一塊好硬盤！
[ Last edited by c@ini@o on 2003-12-28 at 15:10 ]
補充一下檢測結(jié)束后錯誤代碼表：
0X00 - Not error
0X10- Aborted
0X20 - Device Not Present
0X22 - Password Protected
0X30- Out of memory
0X31- Wrong Parameter
0X32- Illegal Parameter
0X33- Function not supported
0X40- System Error
0X41- Bad Cable
0X42 - Temerature Limit exceeded
0X43- Pending SCSi Request
0X44- System Vibration
0X45- Low system Performance
0X70- Defective Device
0X71- Device Nor Ready
0X72- Device SMART Error
0X73- Device Damaged By Shock
0X74- SMART self test Error SMART
0X75 Defective device
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